深圳市洛河科技有限公司

	高亮度点光源（WMH-8- 系列）用途：用于元件，连接器等的倾斜重点照明，镜头检测，液晶检测等。


	直接照射环形垂直角度（WLDR- 系列）用途：用于文字形状识别和缺陷检测，底基及线路板定位，线路板的元器件检测等。


	直接照射环形15-30度（WLDR-A 系列）用途：用于文字形状识别和缺陷检测，底基及线路板定位，线路板的元器件检测等。


	直接照射环形垂直角度60-75度（WLDR-LA系列）用途：用于金属等具有光泽的物体的表面检测，凹凸，伤痕和污点的检测。


	直接照射环形水平角度（WLDR-UA系列）用途：用于晶片的伤痕检测，刻印文字的读取，也可作为辅助光源使用。


	直接照射线形-大功率（WLDL-系列）用途：用于带状薄膜，包装物，LCD的缺陷检测，金属板的伤痕和变色的检测等。


	直接照射-线形（WLDL-系列）用途：用于带状薄膜，包装物，LCD的缺陷检测，金属板的伤痕和变色的检测，液晶元件的检测。


	直接照射-条形（WLDL-系列）用途：用于微小缺陷，直线状缺陷检测，文字的形状识别和缺陷检测，液晶文字，小型液晶板的检测等。


	透过照射-背光高亮（WLTD-系列）用途：微小缺陷检测，文字的形状识别和缺陷检测，晶体文字，小型液晶板的检测，物体外形尺寸的检测等。


	透过照射-背光超薄（WLTU-系列）用途：用于玻璃等伤痕和污点的检测，镜片的外形形状检测，小型电子元件的尺寸和形状的检测等。



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